Landauer microSTAR® ii 辐射剂量监测系统
照射剂量太大可能会损坏某些部件
对于电路板的制造商和集成商而言，X射线检查过程中辐射剂量的危险在于高剂量对电路板的物理损伤。 另一个潜在的问题是一些细微且不易察觉的故障，例如位翻转，程序丢失，泄漏等，而且物理损坏通常肉眼难以察觉。
在X射线检查过程中监测这些元器件所受辐照剂量，并确保剂量不超过规定阈值才能有效保护关键元器件，降低潜在风险。LANDAUER开发的microSTAR® ii剂量监测系统可用于监测电路板所受剂量。
简单、灵活的PCB辐射剂量测量方法
LANDAUER采用nanoDot®剂量计基于OSL技术，可以独立验证PCB在X射线检查期间的剂量，并确认剂量不超过制造商部件规定的阈值。
可应用于：
X射线无损检测实验室
印刷电路板制造等行业
优势
● 剂量计可以快速安装在X射线检查样品上（无需线缆连接）；
● 剂量计尺寸小巧，易于固定在要监视的元器件上；
● 剂量计可以进行重复分析；
● 剂量计无影像痕迹，nanoDot®在X射线检查图像上不可见；
● 数据读出快速，10秒即可读取数据；
● 数据保存，可持续追踪；
● 灵敏响应，保证测量数据的精确；
